膜厚と屈折率の測定サービスのご案内

株式会社ユーレカは、世界初のユニークな2次元エリプソメータ(表面検査装置)であるQRシリーズとHRシリーズの2機種により、これまで、主に半導体メーカー様、フィルムメーカー様よりの200種類以上のサンプルの測定と表面解析を行ってまいりました。

QRシリーズは、サンプル面内の大域的な膜厚屈折率分布を一括測定することをコンセプトにしています。

QR400Kは、200mmウエハー全面を100μmの細かさで約30万点ずつ3回で測定します。

HRシリーズは、サンプルのミクロの膜特性を観察することをコンセプトにしています。

HR4000Kは、300mmウエハーの任意の約3mm角の箇所内の140万点を2μmの細かさで一括測定します。

測定箇所はXYステージによってスキャンします。また、結晶方位に依存するサンプルなどの場合、ステージを回転させて入射方向を変えながら測定することもできます。

このたび、HRシリーズによる有償サンプル測定サービスを開始いたしましたので、どうぞご利用ください。

 

測定内容

誘電体および金属薄膜などの表面の2次元的測定

解析内容

薄膜の屈折率、膜厚の測定と2次元的分布

欠陥解析

表面粗さ

界面の分析

サンプル例

シリコン酸化膜、窒化膜

LowkHighk

化合物半導体

SOI

MEMS

金属薄膜

金属酸化膜

フォトレジスト

各種透明な有機膜

DNAチップ

上記のパターンつきサンプル                         
(他多数)

測定条件

測定波長

457.9nm

入射角

5072°

1画面の測定点数

約1,000,000

面内分解能

3μm

サンプル条件

注)現在弊社にある装置の仕様による制約です

サンプルサイズ

ご相談ください

厚み

トータルの厚み2mm以下

平坦度

十分な平坦度を要します

 

サンプルについてのご留意点

お問い合わせからご検収までの流れ

お客様

@ご依頼内容のご照会

Bサンプルご送付

E測定データのご確

Fご検収

ユーレカ

Aシュミレーション

測定可能性のご回答

C測定、計算、解析

D測定結果のご報告
サンプルご返却

G測定データの消去

  1. お客様より、材質・膜厚などのサンプル情報やご希望測定精度などについてご提示いただきます。
  2. 弊社のソフトウェアによりシュミレーションを行い、ご希望精度での測定可能性についてご回答します。
  3. 測定可能の場合、弊社よりお見積もり後お客様より宅急便などでサンプルをご送付いただきます。
    なおこの間お客さまのお申し出により必要な場合秘密保持契約を結ばせていただきます。
  4. 弊社にて測定、計算、解析を行います。
  5. 測定データにデータ表示ソフトウェアを添付してCDROMまたはDVDにてご送付します。その際、サンプルを併せてご返却します。納期は、弊社へのサンプルの到着から通常 1週間程度です。ただし、測定サンプル、測定画面数により納期が延長する場合がございます。

測定料金

基本料金

\80,000 サンプル

付加料金

\10,000 画面

 

サンプル測定サービスに関するご質問・ご相談などがございましたら、下記までお問い合わせください。mail

株式会社 ユーレカ
〒289-2166千葉県匝瑳市新7-1
TEL: 0479-74-8741
FAX:0479-74-8742
E-mail: sales@heureka.co.jp